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          注册

        国家标准计划《微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法》由 TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准化管理委员会。 拟实施日期:发布后6个月正式实施。

        主要起草单位 天津大学中机生产力促进中心国家仪器仪表元器件质量监督检验中心南京理工大学中国电子科技集团公司第十三研究所

        主要起草人 郭彤胡晓东李海斌于振毅裘安萍程红兵崔波朱悦

        目录

        项目进度

        基础信息

        计划号
        20120465-T-469
        制修订
        制订
        项目周期
        36个月
        下达日期
        2012-10-11
        标准类别
        方法
        中国标准分类号
        L55
        国际标准分类号
        31.200
        31 电子学
        31.200 集成电路、微电子学
        归口单位
        全国微机电技术标准化技术委员会
        执行单位
        全国微机电技术标准化技术委员会
        主管部门
        国家标准化管理委员会

        起草单位

        起草人

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